【摘要】 本发明涉及一种液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置。检测方法包 括：向彩膜公共电极加载第一检测电压，在彩膜公共电极与像素电极之间形 成第一电压差；发现亮点或暗点后，采集亮点或暗点的第一亮度值；将加载 在彩膜公共电极上的第一检测电压切换成第二检测电压，在彩膜公共电极与 像素电极之间形成第二电压差；采集亮点或暗点的第二亮度值；判断第一亮 度值与第二亮度值之间的差距，当|第一亮度值-第二亮度值|≤A时，确定 亮点或暗点为盒内不良；当|第一亮度值-第二亮度值|≥B时，确定亮点或 暗点为阵列基板不良。本发明可明确区分出盒内不良或阵列基板不良，为不 良分析和维修提供有利的依据，从而有效避免了产品废弃，降低了损失。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京京东方光电科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100176北京市经济技术开发区西环中路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】大兴区 【申请号】CN200810119137.3 【申请日】2008-08-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101661169A 【公开公告日】2010-03-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101661169B 【授权公告日】2011-12-28 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G02F1/13; G02F1/133; G09G3/36 【发明人】李丽; 彭志龙 【主权项内容】1.一种液晶显示器亮点或暗点检测方法，其特征在于，包括： 步骤1、向彩膜基板的彩膜公共电极加载第一检测电压，在彩膜公共电极 与阵列基板的像素电极之间形成第一电压差； 步骤2、判断液晶显示器是否出现亮点或暗点，是执行步骤3，否则执行 步骤7； 步骤3、采集此时所述亮点或暗点的第一亮度值； 步骤4、将加载在所述彩膜公共电极上的第一检测电压切换成第二检测 电压，在彩膜公共电极与阵列基板的像素电极之间形成第二电压差； 步骤5、采集此时所述亮点或暗点的第二亮度值； 步骤6、判断所述第一亮度值与第二亮度值之间的差距，当|第一亮度 值-第二亮度值|≤A时，确定所述亮点或暗点为盒内不良；当|第一亮度值 -第二亮度值|≥B时，确定所述亮点或暗点为阵列基板不良；其中A为预先 设定的第一偏差值，B为预先设定的第二偏差值； 步骤7、检测结束。 【当前权利人】京东方科技集团股份有限公司; 北京京东方光电科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市朝阳区酒仙桥路10号; 北京市大兴区北京经济技术开发区西环中路8号 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳与境内合资) 【统一社会信用代码】911103027493533932 【被引证次数】42 【被自引次数】17.0 【被他引次数】25.0 【家族引证次数】13.0 【家族被引证次数】49
