【摘要】 数据由整理 。本发明是一种电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标、底座和 基准尺，旨在满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内， 沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。其中：靶标为轴承钢球 经过线切割加工而成的半球或球缺；包括粘贴有纸质环形标志的端 面，及一种放置如上所述靶标的底座，一种安装如上所述靶标的基准 尺。本发明满足了电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内， 沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要，并且，应用于校准的基 准点的坐标值可以用精度更高的仪器，如激光雷达扫描仪实时的修 正，以保证高的校准精度和降低对基准放置点环境的依赖。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京航天计量测试技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100076北京市丰台区南大红门路1号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】丰台区 【申请号】CN200810147440.4 【申请日】2008-08-18 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101655343A 【公开公告日】2010-02-24 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101655343B 【授权公告日】2011-11-09 【授权公告年份】2011.0 【发明人】刘勇; 沈兆欣; 陈晓晖; 方芳; 殷晴; 贺燕 【主权项内容】1.一种电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标，其特征在于： 靶标整体为钢球经过加工得到的半球或球缺，钢球由于加工而具有一 个经过球心的端面，在此端面上粘贴有环形目标。 【当前权利人】北京航天计量测试技术研究所 【当前专利权人地址】北京市丰台区南大红门路1号 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
