【摘要】 本发明属于一种双轴光电自准直仪，具体涉及一种双轴CCD传感器光电自 准直仪。本发明的优点是，本发明应用分光棱镜测量装置具有四个共轭焦面， 空间上正交的两个“一”字型分划板，分别放置在图示两个焦面上，分划板后 放置两个分别控制的光源系统，相当于利用同一物镜头的两套自准直光学系统 通过分光棱镜叠加工作。两套系统具有各自的光源系统、分划板、CCD传感器。 系统工作时，两套测量系统微观上交替工作，由两个CCD传感器分别完成两维 光学信号的采集，从而达到宏观上同步完成两维角度的测量。能够大幅度的提 高双轴光电自准直仪的测量精度、频率响应等一系列技术指标。测量不确定度 达到了0.1″。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京航天计量测试技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100076北京市丰台区南大红门路1号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】丰台区 【申请号】CN200810134460.8 【申请日】2008-07-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101639351A 【公开公告日】2010-02-03 【公开公告年份】2010 【发明人】王锴磊 【主权项内容】1.一种双轴CCD传感器光电自准直仪，其特征在于：在X轴方向依次 设有X轴光源(7)、X轴分划板(8)、第一个分光镜(1)、第二个分光镜(2)、 物镜(10)和被测反光镜(15)，第一个分光镜(1)所对应的竖直焦面上设 有X轴CCD传感器(9)，其中，X轴分划板(8)位于第一个分光镜(1) 所对应的水平焦面上，光线沿X轴方向透过第一个分光镜(1)和第二个分 光镜(2)、物镜(10)，经被测反光镜(15)反射后透过第二个分光镜(2) 并经第一个分光镜(1)反射到竖直方向汇集到X轴CCD传感器(9)上； 第二个分光镜(2)的Y轴方向上方设有第三个分光镜(3)，第三个分光镜 (3)所对应的水平焦面处设有Y轴分划板(6)，第三个分光镜(3)所对应 的垂直焦面处设有Y轴CCD传感器(4)，Y轴分划板(6)的外侧设有Y轴 光源(5)，其中，光线沿第三个分光镜(3)的X轴经第三个分光镜(3)的 反射和第二个分光镜(2)的反射透过物镜(10)，经被测反光镜(15)反射 后再经第二个反光镜(2)反射，沿Y轴方向透过第三个反光镜(3)汇集到 Y轴CCD传感器(4)上，其中，X轴CCD传感器(9)与X轴分划板(8) 空间正交，Y轴CCD传感器(4)与Y轴分划板(6)空间正交，Y轴分划 板(6)与X轴分划板(8)空间上正交，Y轴CCD传感器(4)与X轴CCD 传感器(9)空间上正交。。 【当前权利人】北京航天计量测试技术研究所 【当前专利权人地址】北京市丰台区南大红门路1号 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
