【摘要】 本发明用于微位移测量，特别适用于位移量小于1微米的精密测量。采用了平衡式杠杆机构，可以精确的将微位移放大数十倍甚至数百倍，从而可以使普通位移测量仪器的测量精度提高1～2个数量级。采用了两级平衡调整方式，调整方便，最大限度的减小了受力变形对测量精度的影响，保证测量了过程稳定。本发明具有结构简单，使用、维护方便，制造成本低等特点，解决了目前微位移测量装置制造成本高、使用条件要求很高，很难在现场测量中直接使用的问题，极大地扩展了普通位移测量仪器的应用领域。 【专利类型】发明申请 【申请人】江苏大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】212013江苏省镇江市学府路301号 【申请人地区】中国 【申请人城市】镇江市 【申请人区县】京口区 【申请号】CN200610098323.4 【申请日】2006-12-11 【申请年份】2006 【公开公告号】CN1975335A 【公开公告日】2007-06-06 【公开公告年份】2007 【授权公告号】CN100501336C 【授权公告日】2009-06-17 【授权公告年份】2009.0 【发明人】王树林; 王贵成; 刘远伟; 沈春根; 张兵 【主权项内容】1.一种通用型精密位移测量辅助装置，其特征是采用两级平衡调整装置， 即两级平衡式杠杆，在第一测量头(5)的一侧依次安装了一根调整螺杆(3)、 一个粗调平衡块(2)和一个微调平衡块(1)，杠杆支承副为一对支承刀(6)和 支承块(7)组成的硬质刀口式支承，杠杆轴(8)的侧面刻有标尺，杠杆轴的尺 寸Φ＝8～18mm，杠杆主动臂长度L1＝10～50mm，杠杆主动臂长度L2＝100～ 500mm。 【当前权利人】江苏大学 【当前专利权人地址】江苏省镇江市学府路301号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】123200004660115453 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
